Carl Zeiss MicroImaging

Adresse: Ein Zeiss-Laufwerk 10594 Thornwood USA
Website: http://www.zeiss.com/materials

Carl Zeiss MicroImaging GmbH, ist ein 100% Tochtergesellschaft der Carl Zeiss AG.

Der optische Sensor Systems und die Materialien Microscopy Geschäftseinheiten sind Teile der Sparte Industrie, die, zusammen mit dem Geschäftsbereich BioScience, gehört zur Carl Zeiss MicroImaging. Beide Unternehmensbereiche bieten Lösungen für eine Vielzahl von Anwendungen in der Solar- Industrie.

Zur Erfassung und Steuerung der komplexen Prozess-Stufen in Glas beteiligt und Solar- Zellproduktion, präzise und schnell in-line und at-line Messungen sind erforderlich.

Diese Systeme sind für Qualitäts-und Prozesskontrolle für Anwendungen in der Produktion von Solarglas ausgelegt, Architektur aus Glas und Solarzellen.

Carl Zeiss Optical Sensor Systems bietet komplette Systeme, die das Instrument berührungslose und zerstörungsfreie Messungen der spektralen Transmission / Reflexion und die Bestimmung der Farbwerte zulassen, Schichtdicke und Schichtwiderstand.

Hohe Qualität und Sicherheit sind auch unter extremen Umgebungsbedingungen oder im Vakuum garantiert. Die Messergebnisse werden sofort und unter der Voraussetzung zur Verfügung für die Prozessoptimierung und Archivierung.

Die ZEISS-Spektrometer aus der bewährten Leitung von MCS 600 oder Systeme CORONA PLUS verbinden moderne UV-VIS-NIR-Diodenarray-Technologie mit präzisen optischen Design und schnelle, hochauflösende Elektronik. Speed, Robustheit und Zuverlässigkeit zählen ihre herausragenden Eigenschaften. Die Dioden-Array-Spektrometer bieten eine hohe Messgenauigkeit, ausgezeichnete Stabilität und Reproduzierbarkeit Wellenlänge der Messergebnisse. Die modulare Bauweise erlaubt auch die Systeme anschließend mit weiteren Messstellen erweitert werden. Über Standard-Schnittstellen und Protokolle angemessen, der Software ermöglicht die Kommunikation mit anderen Systemen und Datenbanken oder Integration in bestehende Lösungen.

Unsere Systeme bieten:

??? High-Speed-Messung der spektralen Transmission / Reflektion, Bestimmung der Farbwerte Schichtdicke und Beschichtung Widerstand ??? in-line oder off-line

??? Engineering Blick